研究成果

イネの一穂籾数に関わる遺伝子座のファインマッピングと収量評価
2017/6/5

【原題】 Fine mapping of a quantitative trait locus for spikelet number per panicle in a new plant type rice and evaluation of a near-isogenic line for grain productivity

 

発表者

佐々木 和浩 (東京大学 大学院農学生命科学研究科 附属生態調和農学機構 助教) 【第一著者】

 

発表の概要

 一穂籾数はイネの収量構成要素の一つであり、収量を左右する重要な形質です。本研究では、インド型品種IR 64とNew plant typeとのイントログレッションラインから、一穂籾数が多い系統を選抜し、量的形質遺伝子座解析(QTL解析)を行いました。第12染色体に、qTSN12.1およびqTSN12.2を検出し、それぞれの準同質遺伝子系統(IR 64-NIL1およびIR 64-NIL12)を作出しました。IR 64-NIL1およびIR 64-NIL12の一穂籾数は、188.6および199.4であり、親品種のIR 64(141.2)を上回る結果となりました。さらに、IR 64-NIL12では収量が高く、qTSN12.2が生産性を向上させることが分かりました。ファインマッピングで得られたDNAマーカーを使い、インド型品種の品種育成に貢献できると期待されます。本研究は、東京大学、国際農林水産業研究センター、国際イネ研究所、農研機構の共同研究で行われました。

 

発表誌情報

Kazuhiro Sasaki, Daisuke Fujita, Yohei Koide, Patrick D. Lumanglas, Ritchel B. Gannaban, Analiza G. Tagle, Mitsuhiro Obara, Yoshimichi Fukuta, Nobuya Kobayashi, Tsutomu Ishimaru. 2017 Fine mapping of a quantitative trait locus for spikelet number per panicle in a new plant type rice and evaluation of a near-isogenic line for grain productivity. Journal of Experimental Botany

URL: https://doi.org/10.1093/jxb/erx128

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